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FETS-2000b 薄膜鐵電性能綜合測試儀具有動態(tài)電滯回線(DHM)、I-V特性、脈沖(PUND)、靜態(tài)電滯回線(SHM)、疲勞(FM)、漏電流(LM)、電流-偏壓、保持力(RM)、印跡(IM)的測試功能.，可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲器等領(lǐng)域的研究。

研禾科技FETS-2000高溫鐵電測試儀可用于高溫環(huán)境下材料鐵電性能測試中測試信號的輸出和反饋信號的收集，可進(jìn)行電滯回線測試、漏電流測試、疲勞測試、電擊穿強度測試、小信號電容測試、PUND測試、印痕測試、保持力測試等鐵電性能的檢測，另外還有壓電測試、介電測試、電阻率測試、電容充放電測試需配合另外升級選件實現(xiàn)。

FETS-2000變溫鐵電測試系統(tǒng)可用于高低溫環(huán)境下材料鐵電性能測試中測試信號的輸出和反饋信號的收集，可進(jìn)行電滯回線測試、漏電流測試、疲勞測試、電擊穿強度測試、小信號電容測試、PUND測試、印痕測試、保持力測試等鐵電性能的檢測，另外還有壓電測試、介電測試、電阻率測試、電容充放電測試需配合另外升級選件實現(xiàn)。