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PCTS-2000E偏置電場(chǎng)下熱釋電系數(shù)測(cè)試系統(tǒng)采用直接測(cè)量法,在熱釋電材料兩端施加直流偏場(chǎng)的條件下,測(cè)量熱釋電材料在均勻升溫過(guò)程中釋放出來(lái)的熱釋電電流,計(jì)算得到場(chǎng)致熱釋電系數(shù),適用于各種熱釋電薄膜、厚膜、單晶、陶瓷材料等的測(cè)試。
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